GB/T26332规定了在光学元器件及基片表面镀制的光学薄膜的应用功能分类、技术指标的标准表述形式、常规特性及试验测量方法,但不拟用于规定镀制方法。
本部 分 规 定 了 在 GB/T 26332.3 中 提 到 的 光 学 薄 膜 环 境 适 应 性 试 验 方 法,这 些 方 法 在
GB/T12085—2010标准中没有描述。这些方法通常与 GB/T26332.3—2015附录 A 中的测试方法组
成试验序列共同使用。
本部分不适用于眼科光学(眼镜)的光学薄膜。
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