纳米技术 多壁碳纳米管的表征 介观形状因子

本文件描述了多壁碳纳米管（MWCNTs）介观形状因子的表征方法。所采用的表征技术包括扫描电子显微术（SEM）、透射电子显微术（TEM）、黏度法和光散射法等。
本文件还包括用于界定静态弯曲持续长度（SBPL）表征的附加条款，给出了用于评价SBPL的测量方法，其长度通常处于几十纳米至几百微米之间。
本文件借鉴高分子物理中的概念和数学表达式来定义MWCNTs的介观形状因子。