本部分规定了用微型磁场探头以非接触的电流测量方式来测量集成电路（IC）的管脚的射频电流的方法。本方法可以在150kHz～1GHz频率范围内测量由IC产生的射频电流。本部分适用于单个IC的测量或者用于标准测试板上的IC芯片组的描述和比较。
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