GB/T25758的本部分规定了采用清晰边缘的射线照相底片,来校验管电压最高至500kV 的工业X 射线系统的大于0.5mm 焦点尺寸的方法。 
      X 射线图像的像质和分辨力很大程度上取决于焦点的特性。焦点成像质量基于目标平面的二维强度分布。 
      边缘方法对于在现场条件下校验焦点是特别有效,以发现焦点的变化。本方法不能用于焦点尺寸的绝对测量。焦点尺寸的绝对测量方法见附录A。