无损检测 工业射线计算机层析成像检测 第1部分：原理、设备和样品

本文件规定了X射线计算机层析成像（CT）的一般原理、所用设备及关于样品、材料和几何形状的基本注意事项。
本文件适用于工业计算机层析成像（非医学应用）检测，定义了一组CT系统性能参数，以及这些性能参数与 CT 系统规格的关系。
本文件适用于计算机轴向层析成像，不适用于其他类型的层析成像，如平移层析成像和断层合成成像。