GB/T 4937的本部分对已封装的半导体集成电路和半导体分立器件进行60?Co γ射线源电离辐射总剂量试验提供了一种试验程序。本部分提供了评估低剂量率电离辐射对器件作用的加速退火试验方法。这种退火试验对低剂量率辐射或者器件在某些应用情况下表现出时变效应的应用情形是比较重要的。
本部分仅适用于稳态辐照，并不适用于脉冲型辐照。
本部分主要针对军事或空间相关的应用。
本试验可能会导致辐照器件的电性能产生严重退化，因而被认为是破坏性试验。