本部分为ＧＢ／Ｔ１５９７２的第４０部分。本部分代替ＧＢ／Ｔ１５９７２．４—１９９８《光纤总规范　第４部分：传输特性和光学特性试验方法》第４章。本标准规定了光纤的衰减特性试验方法，确立了对试验装置、注入条件、程序、计算方法和结果的统一要求。本部分适用于对Ａ 类多模光纤和Ｂ类单模光纤的测量和成品光纤光缆的商业性检验。本部分与ＧＢ／Ｔ１５９７２．４—１９９８第４章相比主要变化如下：
———原正文中对每一种试验方法的详细描述分别用附录的形式给出（见附录Ａ、附录Ｂ、附录Ｃ 和附录Ｄ）；
———截断法Ａ１类多模光纤的注入条件中增加了“表Ａ．１ 芯轴直径实例”（见Ａ．１．３．１．２）；
———截断法中增加了Ａ２类、Ａ３ 类和Ａ４ 类突变型折射率分布多模光纤的注入装置和注入条件（见Ａ．１．４）；
———截断法中增加了波长应校准至±１０ｎｍ 内的要求（见Ａ．１．５）；
———相关内容的叙述做了一些修改。