本标准是对ＧＢ／Ｔ１７４７３—１９９８《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法》（所有部分）的整合修订，分为７个部分,本部分为ＧＢ／Ｔ１７４７３—２００８的第５部分。 本标准规定了微电子技术用贵金属浆料中 粘度的测定方法。 本部分代替ＧＢ／Ｔ１７４７３．５—１９９８《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法　粘度测定》。
本部分与ＧＢ／Ｔ１７４７３．５—１９９８相比，主要有如下变化：
———将原标准名称修改为：微电子技术用贵金属浆料测试方法　粘度测定；
———将原标准中范围去除“非贵金属电子浆料粘度测定也可参照本标准执行”