本文件描述了元器件位移损伤的试验方法。
本文件适用于光电集成电路和分立器件，如电荷耦合器件（CCD）、光电耦合器、图像敏感器（APS）、光敏管等，用质子、中子进行位移损伤辐照试验。
其他元器件的位移损伤辐照试验参照进行。
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