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半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理
标 准 号:
SJ/T 10737-1996
替代情况:
替代 GB 3441-82
发布单位:
国家标准局
起草单位:
发布日期:
1996-11-20
实施日期:
1997-01-01
点 击 数:
更新日期:
2024年08月19日
内容摘要
本标准规定了半导体集成电路ECL电路(以下简称器件)静态参数和动态参数测试方法的基本原理。
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电子陶瓷零件公差
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Tag:
安全标准
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电路
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半导体
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