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半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)
标 准 号:
GB/T 4937.4-2012
替代情况:
发布单位:
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
起草单位:
中国电子科技集团公司第十三研究所
发布日期:
2012-11-05
实施日期:
2013-02-15
点 击 数:
更新日期:
2025年02月14日
内容摘要
GB/T4937的本部分规定了强加速稳态湿热试验(HAST)方法,用于评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。
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光伏器件 第10部分:线性特性测量方法
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Tag:
安全标准
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半导体
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