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半导体设备可靠性、可用性和维修性（RAM）的定义和测量规范

标准号： GB/T 24468-2009

替代情况：

发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会

起草单位：中国电子技术标准化研究所

发布日期： 2009-10-15

实施日期： 2009-12-01

点击数：

更新日期： 2025年02月26日

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内容摘要

本标准定义了设备的六个基本状态，所有的设备条件和阶段都必须归入这六个状态。设备的状态由功能决定，而不管是由谁来执行此功能。本规范中所涉及的设备可靠性的测量主要集中在设备失效和设备使用的关系上，而不是设备失效和设备经历的(日历)总时间之间的关系。

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