本标准参考了IEC 60333：1993《核仪器 半导体带电粒子探测器 测试程序》。
本标准代替GB/T 13178-1991《金硅面垒型探测器》。
本标准规定了部分耗尽金硅面垒型探测器（简称探测器）的产品分类、技术要求、测试方法、检验规则等。
本标准适用于部分耗尽金硅面垒型探测器（不包括位置灵敏探测器）。锂漂移金硅面垒型探测器也
可参照执行。
本标准保留GB/T 13178-1991的大部分内容，对其的主要修改如下：
——增加前言；
——引用新的规范性文件；
——产品的外形及结构尺寸仅保留A型，删去原标准的B型和C型；
——部分耗尽金硅面垒型探测器的分类仅保留最小耗尽层深度为300μm一类，而主要性能增加“允许最大噪声”。