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集成电路电磁抗扰度测量第3部分:大电流注入(BCI)法

标准号： GB/T 42968.3-2025

替代情况：

发布单位：国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会

起草单位：中国电子技术标准化研究院、北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司

发布日期： 2025-12-02

实施日期： 2025-12-02

点击数：

更新日期： 2025年12月09日

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内容摘要

本文件描述了在传导射频(RF)骚扰存在的情况下利用大电流注入(BCI)法测量集成电路(IC)抗扰度的试验方法,例如,由辐射RF骚扰引起的传导RF骚扰。这种方法仅用于有板外连线的IC,例如连接到电缆束。本试验方法把RF电流注入到一根或一组线缆。

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集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分:大电流注入(BCI)法

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