本文件描述了磁性材料金相试样的截取、镶嵌、磨光、抛光、浸蚀和检测方法。
本文件适用于在金相显微镜(包含电子显微镜)下观察和检测磁性材料微观缺陷(孔、杂质、裂纹等)、镀层厚度、显微组织及晶粒度。
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