本文件描述了半导体单晶材料在波长0.2μm?300μm范围内透过率的测量方法。
本文件适用于硅、锗、磷化铟、硒化镉、硫化镉、碳化硅、氮化镓、氧化镓、蓝宝石、金刚石等半导体单晶材料透过率的测定。
半导体单晶材料透过率测试方法支承辊废旧粘结钕铁硼磁体再制造技术规范钢铁件激光表面淬火三氧化二砷冷轧钛带卷再生铅锭电镀用铜、锌、镉、镍、锡阳极板
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