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人工智能芯片面向云侧的深度学习 芯片测试指标与测试方法

标 准 号： T/CESA 1119-2020
替代情况：
发布单位： 中国电子工业标准化技术协会
起草单位： 中国电子技术标准化研究院 等
发布日期： 2020-10-30
实施日期： 2020-11-10
点 击 数：
更新日期： 2024年12月10日
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下载点数：30点（VIP会员免费）
内容摘要

本文件规定了对云侧深度学习芯片进行功能、性能测试的测试指标、测试方法和要求，适用于云侧深度学习芯片。本文件只规定云侧深度学习芯片基准测试的一般原则。


上一篇： 燃料电池堆及系统基本性能试验方法
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