本文件给出了光脉冲神经元的测试系统和测试环境，描述了光脉冲神经元的兴奋性阈值、时域累积和不应期特性的测试方法。
本文件适用于采用半导体材料研制的光脉冲神经元（以下简称“神经元”）性能测试。
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