深紫外LED封装 加速寿命试验与寿命评估方法

本文件描述了AlGaN基深紫外LED封装(200 nm~280 nm)的辐射通量维持寿命的加速试验方法与寿命评估方法。本文件提供了根据短期辐射通量维持率测试数据来推算辐射通量长期维持寿命的条件和寿命评估程序。
本文件适用于AlGaN基深紫外LED封装(200 nm~280 nm)的寿命测试、分析及评估等。